X-射线单晶衍射仪

主要技术指标：SMARTAPEXⅡCCD 面探检测器 CCD类型 4KCCD，芯片面积62 mm x 62mm像素数目 4096 x 4096； CCD 束锥比1：1、 无空间畸变；>70% 透光率；暗电流（噪音）：< 0.1 el/pixel/s增益；（灵敏度）>170e/Mo x-rayphoton像素尺寸≤15mm x 15mm；读出口4个；数据读出时间：0.16 s（512x 512 模式）最大动态范围>25,000,000e/pixe；晶体―探测器窗口距离25－250mm 可调。